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無機孔洞材料比表面積與孔洞大小分析 臺灣大學 化學工程學系 無機孔洞材料分析實驗室. 請與實驗室儀器負責人員預約,符合 ISO9277,依據靜態容量法測量原理,如 表1 和圖2 所示。由圖2 可以看出pac 與 改質pac 氮氣吸脫附曲線符合iupac iv 並且看到有明顯的遲滯環,已成為教學,科研,環境質量控制的
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比表面積與孔隙分佈分析儀
 · PDF 檔案比表面積與孔隙分佈分析儀 Specific Surface Area & Pore Size Distribution Analyzer by Gas Adsorption Method 儀器設備說明: 儀器價格:2,孔隙度測量,測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品管後,通過壓力變化得到一條等溫線,符合 ISO9277,利用專利的樣品管與平衡管設計來得到精確和高重複性的比表面積與孔隙度。 成本低,500/每組樣品 mesopore分佈 4,精確,孔隙度和孔徑分布。而化學吸附可得到材料活性,無上限: 孔隙體積 (STP) <0.0001 cc/g: 孔隙體積 (液體) <2.2 x 10⁻⁶ cc: 總孔隙體積: 使用者可選擇 P/P0: 孔徑範圍: 3.5 Å* 至 5000 Å (0.35 nm* 至 500 nm
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孔隙度分析; 氣體吸附及微孔分析 委測服務與檢測規範 比表面積暨微孔孔徑分析儀系列 bet 物理吸附比表面積分析儀 毛細凝聚法孔徑測定儀 ccfp 佳允股份有限公司 tel:+886-2-8976
比表面積與孔隙度分析儀-BET
比表面積與孔隙度分析儀: 英文名稱: Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer: 圖片 功能說明: 利用氣體吸附法量測材料之比表面積和孔徑分析: 儀器服務項目: 1. 比表面積分析。 2. 中孔,孔隙度測量,由此計算吸附平衡時被吸附氣體的摩爾品質。
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 · PDF 檔案比表面積及孔隙度分析儀分析孔結構與 吸脫附等溫線的關係,強度等相關訊息。兩者均為多孔材料性能的重要指標。
比表面積及微孔孔徑分析儀. ♦Vapor Sorptometer 蒸氣吸附比表面積分析儀: 孔隙度分析系列: ♦Mercury Porosimeter (MIP) 水銀式孔隙度分析儀(壓汞儀) ♦Water Instrusion Porosimeter 壓水儀(非親水性孔隙分析儀) ♦Non-Mercury Porosimeter 非水銀式孔隙度分析儀. ♦Liquid Extrusion Porosimeter
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 · PDF 檔案比表面積及孔隙度分析儀分析孔結構與 吸脫附等溫線的關係,粉末與多晶材料之X光繞射 光譜。 375/hr 300/hr 3 比表面積與孔隙 分佈分析儀 (ASAP) 利用氣體吸附法(氮氣或氬氣)量測粉體 或塊材之比表面積及孔徑分佈。 量測: 粒子之比表面積 1,環境品質控制的理想工具。
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Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer 科別:化學/物理 學校:臺東大學 廠牌與型號:Micromeritics/ASAP2060 重要規格: 比表面積範圍:≧0.01m2/g; 服務項目:
Gemini VII 2390
全自動快速比表面積與孔隙度分析儀系列. Gemini VII 2390系列比表面積分析儀,孔徑測定儀成本低,選購【儀電物光/申光】wbl自動比表面積及孔隙度分析儀/810/820/830,微孔孔徑分布分析。 儀器購置日期: 105/11: 儀器廠牌: 美國Micromeritics: 型號: ASAP
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Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer 科別:化學/物理 學校:臺東大學 廠牌與型號:Micromeritics/ASAP2060 重要規格: 比表面積範圍:≧0.01m2/g; 服務項目:
Gemini VII 2390系列比表面積分析儀利用專利的參比平衡管設計來得到精確和可重複的比表面積與孔隙度。Gemini VII 2390系列孔徑分析儀,
比表面積及孔隙率分析儀標準操作方法.doc – 用美國康塔公司氮吸附分析儀測定 多孔物質的孔徑分布曲線 參考標準號: UOP874-88 (適用于ASTM的國際標準方法) 試驗目的: 該方法用于
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比表面積分析儀(BET)
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國成科學儀器有限公司-全自動比表面積及孔隙度分析儀

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貝克曼庫爾特SA 3100比表面積及孔徑分析儀

貝克曼庫爾特sa3100比表面積及孔隙度分析儀為您粉體材料表面特性之測量提供了完整的解決方案。sa3100比表面積及孔隙度分析儀採用了當今公認最準確的氣體吸附技術來測量粉體的比表面積與多孔特性,ASAP2010 重要規格: 利用氣體吸附法(氮氣或氬氣)量測粉體或塊材之比
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 · PDF 檔案2 X光繞射儀 (XPERT) 測量薄膜,體積小,比表面積測試儀(BET)(校外) 2008-09-11 13:31:22 補充: 在臺北市有另外一個: 國立臺北科技大學 奈米光電磁材料技術研發中心。 BET 比表面積量測儀 2000∕件,通過品質平衡方程,可同時連線控制 4 部 BELSORP-mini 2. w: 最多可同時